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薄膜厚度測量儀

型 號SD20

所屬分類實驗室儀器

報價

更新時間2024-10-30

產品描述:薄膜厚度測量儀薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學常數、均勻性、刻蝕量等;薄膜種類:透明及半透明薄膜,常見如氧化物、聚合物甚至空氣。

產品概述

品牌其他品牌產地類別國產
應用領域化工,綜合

Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統

您是想要知道薄膜厚度、光學常數,還是想要知道材料的反射率和透過率,F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點,F20適用于各種應用。


我們能測量什么

薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學常數、均勻性、刻蝕量等

薄膜種類:透明及半透明薄膜,常見如氧化物、聚合物甚至空氣

薄膜狀態:固態、液態和氣態薄膜都可以測量

薄膜結構:單層膜、多層膜;平面、曲面


薄膜厚度測量儀附加特性

  • 嵌入式在線診斷方式

  • 免費離線分析軟件

  • 精細的歷史數據功能,幫助用戶有效的存儲、重現和繪制測量結果


所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯網支持(24小時/每周5工作日)。


膜層范例

基本上光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜可以測量。

這包括電介質與半導體材料,例如:


SiNXTiO2DLC
光刻膠SU-8聚合物有機電致發光器AIQ材料
非晶硅ITO硒化銅銦鎵CIGS



膜厚測量范圍

薄膜厚度測量儀


測量原理

薄膜厚度測量儀




常見應用

半導體膜層 液晶顯示器
光刻膠      OLED
加工膜層玻璃厚度
介電層ITO和TCOs
光學鍍層生物醫學
硬涂層    聚對二甲苯
抗反射層 醫療器械


我們對薄膜問題都很感興趣,歡迎與我們聯系討論您的薄膜,并到我們的實驗室測試您的薄膜。



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